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使用FISCHER膜厚儀遵守這些原則，準(zhǔn)沒(méi)錯(cuò)！
點(diǎn)擊次數(shù)：1089 更新時(shí)間：2022-10-22 返回
目前，國(guó)內(nèi)國(guó)外不管是出名的品牌還是一般的膜厚儀廠家，其測(cè)厚儀的操作方法基本一致，FISCHER膜厚儀作為一款專(zhuān)業(yè)檢測(cè)金屬表面涂層厚度的儀器，其測(cè)試數(shù)據(jù)很容易受到測(cè)試手法的影響。
調(diào)零，即在特定的零板上調(diào)零，或在需要測(cè)量的原基材上調(diào)零；根據(jù)測(cè)量產(chǎn)品的不同測(cè)量范圍，用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試片調(diào)值，以減少測(cè)量上的誤差。
一般情況下，儀器新購(gòu)使用時(shí)還是沒(méi)有什么問(wèn)題的，但當(dāng)探頭使用一段時(shí)間后，操作中我們的儀器測(cè)量精度會(huì)減小。
由于電磁場(chǎng)在不同表面結(jié)構(gòu)有不同的分布形式，從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。為避免因操作而引起的誤差，使用FISCHER膜厚儀時(shí)，請(qǐng)遵循以下原則：
1、在同一點(diǎn)重復(fù)測(cè)量時(shí)，每次將探頭離開(kāi)10cm以上，間隔幾秒鐘后再測(cè)，避免被測(cè)材料因探頭磁化后，影響下次測(cè)量結(jié)果；
2、使用時(shí)，平面調(diào)零測(cè)平面，凸面調(diào)零測(cè)凸面，凹面調(diào)零測(cè)凹面，避免因結(jié)構(gòu)不同而產(chǎn)生測(cè)量誤差；
3、盡量使用被測(cè)材料作為調(diào)零基體，避免因不同材料的導(dǎo)磁性不同，而出現(xiàn)測(cè)量誤差；
4、盡量在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零后，再測(cè)相同部位。例如，在工件邊緣和中間部位應(yīng)分別調(diào)零；
5、做調(diào)零用的表面，要盡量光滑；被測(cè)材料表面的粗糙度對(duì)測(cè)量數(shù)值影響很大，如果表面不光滑，應(yīng)視情況取平均值；
6、測(cè)量時(shí)，探頭要保持與被測(cè)料面垂直，否則會(huì)產(chǎn)生較大誤差。
