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DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 |
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DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)， 配置ED10兩用探頭，在同時(shí)測(cè)量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環(huán)氧樹(shù)酯等厚度時(shí)不用更換探頭、方便快捷。
該款儀器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于汽車、航空、電鍍和機(jī)械加工等等領(lǐng)域
如配置ED10兩用探頭，在同時(shí)測(cè)量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環(huán)氧樹(shù)酯等厚度時(shí)不用更換
探頭、方便快捷。
該儀器也可以配置磁感應(yīng)和渦流單用探頭以適應(yīng)不同的測(cè)量之需求
配置ETA3.3H探頭，能達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍： 0 ～ 1 200μｍ （45 mils）
測(cè)量精度： 0～50 μｍ， ± 0.25 μｍ；
50～8000μｍ， ± 0.5 ％；
800～1200μｍ， < 2.5%
配置EGA1.3探頭，能達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍： 0 ～ 1 500μｍ （45 mils）
測(cè)量精度： 0～50 μｍ， ± 0.25 μｍ；
50～1000μｍ， ± 0.5 ％；
1000～1500μｍ， < 2.5%
配置ED10 兩用探頭配合，可具備磁感應(yīng)和渦流兩種測(cè)量功能。
探頭 ED10 設(shè)置為兩用時(shí)的測(cè)量參數(shù)：
磁感應(yīng)：測(cè)量范圍： 0～800 μΜ（0～32 mils）
渦 流：測(cè)量范圍： 0～800 μΜ（0～32 mils）
探頭 ED10 設(shè)置為單用時(shí)的測(cè)量參數(shù)：
磁感應(yīng)：測(cè)量范圍： 0～1500μΜ（0～60 mils）
測(cè)量精度： 0～50 μΜ： 0.2 μΜ
50～1500μΜ： 1 ％
渦 流：測(cè)量范圍： 0～1200μΜ（0～48 mils）
測(cè)量精度： 0～100 μΜ： 0.5 μΜ
100～1200μΜ： 0.5 ％
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