MIKROTEST G6麥考特磁性測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK |
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MIKROTEST G6麥考特磁性測厚儀
測量使用要求
1、在平面上測量
測量面方位對于測量沒有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui 小測量范圍和基體的厚度。
2、在曲面上測量 測量圓柱或圓形邊緣時，可以利用儀器測嘴上的 V 型口。測量凹面時與測量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。
3、在粗糙表面測量
在粗糙表面測量時，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過 100um 時，實際讀數(shù)高于涂層真實厚度達20％之多。在這種情況 下應至少測量6 次以上，得出平均值。
4、檢查度
測厚儀裝有磁鋼，在正常使用時是不會發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時去測量厚度標準，進行調(diào)整。對 于這種測量可采用EPK 公司的厚度標準件。標 準板厚度表如表二所示。
MIKROTEST：
MIKROTEST G6
MIKROTEST F6
MIKROTEST S3
MIKROTEST S5
MIKROTEST S10
MIKROTEST S20
MikroTest NiFe50
MikroTest Ni50
MikroTest Ni100
型 號 | 測量范圍 | 讀值精度 | zui小測量區(qū)-直徑 | zui小半徑 凸 凹 mm mm | 基體zui小 厚度mm | 用于 |
MIKROTEST G 6 | 0－100μm | 1μm或5％讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F 6 | 0－1000μm | 5μm或5％讀值 | 30mm | 8 25 | 0.5 |
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MIKROTEST 6 S3 | 0.2－3mm | 5％讀值 | 30mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S5 | 0.5－5mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S10 | 2.5－10mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 2.0 |
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MIKROTEST 6 S20 | 7.5－20mm | 5％讀值 | 1000mm | 100 150 | 7.0 |
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MIKROTEST 6 Ni50 | 0- 50μm | 1μm+5%讀數(shù) | 15mm | 5 25 | - | 非鐵制基體上鍍鎳 |
MIKROTEST 6 Ni100 | 0- 100μm |
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MIKROTEST NIFE50 | 0－50μm | 2μm + 8％讀值 | 20mm | 10 25 | 0.5 | 鐵上電鍍鎳 |
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