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Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀
| 更新時(shí)間： | 2024-09-27 |
| 報(bào) 價(jià)： |  |
Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車(chē)及零部件 |
Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇 （0.1 ----- 50 μm/min） 和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
電壓曲線圖形顯示
圖形和統(tǒng)計(jì)分析 多語(yǔ)言和計(jì)量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
可調(diào)節(jié)的電解電流
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位系統(tǒng)概述 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽）。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 可選配件 大量的可選配件使測(cè)量工作更便利，確保了安全的儲(chǔ)存并為固定工件提供輔助。
校準(zhǔn) 校準(zhǔn)時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)修正系數(shù) 。這是由于測(cè)量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數(shù)。
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