聯(lián)系人：王存帆
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Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度及元素分析
Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度及元素分析
Helmut Fischer集團(tuán)是一家受德國(guó)和瑞士基金會(huì)控股、專業(yè)生產(chǎn)和銷售涂鍍層測(cè)厚儀、材料分析儀、微硬度測(cè)試儀和材料測(cè)試儀的集團(tuán)公司。集團(tuán)總部位于德國(guó)和瑞士，在德國(guó)、美國(guó)和英國(guó)各建有一個(gè)工廠、并設(shè)立了一個(gè)研究院和一個(gè)用戶應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，在*設(shè)有近50個(gè)分公司。
公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國(guó)辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供比較良好的解決方案。
FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù)，能提供好的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
FISCHER臺(tái)式熒光射線測(cè)厚儀型號(hào)及功能
GOLDSCOPE
GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的
XAN
用于快速、高效地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。
XUL / XULM
基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、高效地測(cè)量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。
XDL / XDLM / XDAL
功能強(qiáng)大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試，是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。
XDV-SDD
FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)
XDV-µ
FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品
XUV
X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。
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