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麥考特MIKROTEST G6磁性測(cè)厚儀:篤摯將為您提供MIKROTEST G6麥考特磁性測(cè)厚儀的專業(yè)介紹。測(cè)量過(guò)程中飛測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響,注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的Z 小測(cè)量范圍和基體的厚度。 六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí),可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。
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MIKROTEST G6機(jī)械式測(cè)厚儀:麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀膜厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,Z小的測(cè)量范圍是0-100微米,Z大的是7.5-20毫米。
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