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非破壞性涂層測厚儀IsoScope FMP10 ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域

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Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀 COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

德國進(jìn)口DualScope FMP150霍爾效應(yīng)測厚儀 DualScope FMP150進(jìn)一步配備了第三種測量原理，即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測量涂鍍層厚度外，還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。

現(xiàn)貨DualScope FMP100測厚儀功能升級款 DUALSCOPE FMP100涂層測厚儀自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測量還可以對非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測